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半导体

半导体工业用超纯水(UPW)

在等离子显示器、芯片和集成电路的生产中,某些工艺步骤需要非常高质量的水。

UPW生产系统的典型方案

UPW的生产需要整合几种处理技术,包括反渗透、电去电离和离子交换。

一个设计良好的UPW系统需要策略性地选择技术和设备。根据给水水质和/或用户要求,可以采用不同的配置。请联系我们了解更多信息。

UPW质量指南

ASTM(美国测试和材料协会)为半导体工业区分了几种纯度等级

参数

类型E.1

E型1.1

E型1.2

线宽

1.0 - -0.5

0.35 - -0.25

0.18 - -0.09

电阻率,25oC

MΩ疲倦

18.1

18.2

18.2

TOC (μg/L)(在线

5

2

1

在线溶解氧(μg/L)

25

10

3.

蒸发后残留(μg/L)

1

0.5

0.1

SEM粒子

0.1 - -0.2µm

1.000

700

< 250

0.2 - -0.5µm

500

400

< 100

0.5 - -0.1µm

One hundred.

50

< 30

10µm

< 50

< 30

<10

细菌CFU/体积

100毫升样品

5

3.

1

1 l示例

10

10 l示例

总(μg / L)

5

3.

1

溶解(μg / L)

3.

1

0.5

负离子和铵离子(μg/L)

0.1

0.1

0.05

溴化

0.1

0.05

0.02

0.1

0.05

0.02

氟化

0.1

0.05

0.03

硝酸

0.1

0.05

0.02

亚硝酸盐

0.1

0.05

0.02

磷酸

0.1

0.05

0.02

硫酸

0.1

0.05

0.02

ICP/MS测定金属含量(μg/L)

0.05

0.02

0.005

0.05

0.02

0.01

0.3

0.1

0.05

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.002

引领

0.05

0.02

0.005

0.05

0.02

0.003

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.002

0.05

0.02

0.005

0.05

0.02

0.005

0.05

0.02

0.001

0.05

0.02

0.002

注:本表中的数值为ASTM提供的指南。当半导体工业开发出新的线宽时,该指南将进行修订。请查阅ASTM网站(www.astm.org)查阅这些值的更新。

高端使用要求分为E-1.1型和E-1.2型。

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